一、兩箱式高低溫沖擊試驗箱詳細介紹

高低溫沖擊試驗箱根據(jù)待測試樣的特殊性，分為兩箱式動態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊, BG/2TS系列既可作冷熱沖擊試驗，也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周周大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，同時可通過此試驗。進行產(chǎn)品的質(zhì)里控制。

二、兩箱式高低溫沖擊試驗箱產(chǎn)品用途

用于電子電器零組件、自動化零部件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)。測試其材料對高低溫反復(fù)抵拉力以及產(chǎn)品對其產(chǎn)品及材料進行高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境下檢驗其各項性能指標(biāo)。

三、應(yīng)用領(lǐng)域

消費性電子工業(yè)，光電產(chǎn)業(yè)，生物科技，學(xué)術(shù)研究單位，醫(yī)療保險產(chǎn)業(yè)，航太工業(yè)，半導(dǎo)體工業(yè)，通訊工業(yè)，汽車工業(yè)，資訊工業(yè)。

四、滿足標(biāo)準(zhǔn)

Ø GJB150.5A  溫度沖擊試驗

Ø GB/2423.13-2002  溫度沖擊試驗

Ø GJB360B  溫度沖擊試驗

Ø GB2423.1-2008 / IEC6008-2-1-2007 低溫實驗方法

Ø GBT2423.2-2008  高溫實驗方法

Ø GBT10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

Ø GBT11158-2008  高溫試驗箱技術(shù)條件規(guī)格

Ø BS EN 2591-323-1998 電氣和光學(xué)連接元件，溫度沖擊試驗                

Ø GJB 595.4-1988 炮兵光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法  溫度沖擊試驗               

Ø GJB 150.5-1986 設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗                     

Ø GJB 797.4-1990 破器材環(huán)境試驗方法  溫度沖擊試驗               

Ø  HB 5830.10-1984 機載設(shè)備環(huán)境條件及試驗方法  溫度沖擊試驗                

Ø QJ 1177.5-1987 地空、艦空重要系統(tǒng)環(huán)境試驗方法  溫度沖擊試驗        

Ø QJ 1184.3-1987 海防重要環(huán)境規(guī)范  彈上設(shè)備   溫度沖擊試驗              

Ø SJ 20115.3-1992機載雷達環(huán)境條件及試驗方法  溫度沖擊試驗               

Ø WJ 1743.4-1987  1301滅火瓶環(huán)境試驗

Ø 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求、雙方簽訂之“技術(shù)協(xié)議書”